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提升5G測(cè)試效能

選擇可靠、高性能的微波/射頻電纜組件,能夠解決測(cè)試系統(tǒng)經(jīng)常遇到的很多問(wèn)題。例如,電纜組件性能差,會(huì)導(dǎo)致設(shè)備生產(chǎn)延遲、故障排除和維護(hù)頻率上升、頻繁校準(zhǔn)、數(shù)據(jù)完整性問(wèn)題、額外的重新測(cè)試、更高的總擁有成本、測(cè)試系統(tǒng)性能受損以及測(cè)試產(chǎn)量降低。閱讀5G白皮書(shū),了解更多詳情。

下載5G白皮書(shū),請(qǐng)?zhí)顚?xiě)您的相關(guān)信息:

戈?duì)枮楹娇蘸蛧?guó)防、航天、半導(dǎo)體以及測(cè)試和測(cè)量環(huán)境中的高柔性應(yīng)用提供具有顯著機(jī)械和電氣優(yōu)勢(shì)的高性能電纜組件。

New 70 GHz VNA Assembly

本視頻錄制于美國(guó)IMS 2016展會(huì)。

Final Flex Cycle Count at IMS 2016

在IMS 2016展會(huì)戈?duì)柈a(chǎn)品專家Chris Cox公布電纜彎折周期最終的計(jì)數(shù)。

Gore's Solution to 5G Test System Challenges

我們利用材料專長(zhǎng)開(kāi)發(fā)出市場(chǎng)上唯一具有穩(wěn)定電氣性能、而且線徑最小、重量最輕鎧裝結(jié)構(gòu)的5G射頻微波測(cè)試電纜組件。我們的電纜組件具有長(zhǎng)期可靠性能,能夠幫助5G通訊測(cè)試客戶大大節(jié)省測(cè)試時(shí)間,降低測(cè)試成本。

Gore's Flex Simulator at IMS 2016

在IMS 2016全展期中戈?duì)栯娎|在彎折模擬裝置中作耐彎折測(cè)試。

Microwave/RF Assemblies for Test & Measurement Applications

應(yīng)用工程師Keith Cuthbert和銷(xiāo)售同事Steve Peterson參與錄制

提升5G測(cè)試效能

選擇可靠、高性能的微波/射頻電纜組件,能夠解決測(cè)試系統(tǒng)經(jīng)常遇到的很多問(wèn)題。例如,電纜組件性能差,會(huì)導(dǎo)致設(shè)備生產(chǎn)延遲、故障排除和維護(hù)頻率上升、頻繁校準(zhǔn)、數(shù)據(jù)完整性問(wèn)題、額外的重新測(cè)試、更高的總擁有成本、測(cè)試系統(tǒng)性能受損以及測(cè)試產(chǎn)量降低。閱讀5G白皮書(shū),了解更多詳情。

Performance Over Time

最近的一項(xiàng)研究表明,用戶期待微波射頻電纜組件優(yōu)質(zhì)耐用;然而,超過(guò)75%的用戶卻要經(jīng)常更換其組件,造成這些組件失效的最常見(jiàn)原 因是安裝或運(yùn)行期間的損壞問(wèn)題。根據(jù)電纜組件更換的頻率,一臺(tái)設(shè)備在其系統(tǒng)有效使用期內(nèi)因此產(chǎn)生的直接成本最高達(dá)到250,000美元,而且這尚未計(jì)入因生產(chǎn)計(jì)劃延誤、劣質(zhì)產(chǎn)品或重新測(cè)試和校準(zhǔn)等問(wèn)題所造成的間接成本。
戈?duì)柟緦?duì)多款標(biāo)稱鎧裝結(jié)構(gòu)且規(guī)格相似的18GHz微波/射頻電纜組件進(jìn)行耐用性及長(zhǎng)期性能評(píng)估。測(cè)試結(jié)果顯示,僅看微波/射頻電纜組件初次使用時(shí)的表現(xiàn),不一定能確保在系統(tǒng)的整個(gè)有效使用期內(nèi)保持可靠性能。選擇一款能夠經(jīng)受真實(shí)環(huán)境考驗(yàn)的耐用電纜組件是降低更換成本的關(guān)鍵,同時(shí)也是確保電纜組件持久可靠的唯一途徑。